随着芯片制造和测试自动化程度的提高，人体接触器件的机会相对减少，带电器件模型（CDM）已经成为微电子器件失效的主要原因之一，其重要性越来越多地受到人们的重视。

目前三个独立的CDM测试标准是电子工业协会（JEDEC）的标准JESD 22-C101（2009）、美国静电协会（ESDA）的标准AN-SI／ESD S5.3.1（2009）和日本电子与信息技术产业协会（JEITA）的标准EIAJED-4701／300-2。汽车工业协会的标准AEC-Q100-011采用的测试方法与S5.3.1相同。JEDEC标准是应用最广泛的标准，IC厂商的使用率超过80％以上。在对放电模拟器的波形进行校准和验证时，三个主要的测试标准中，存在着许多明显的不同之处：

1）校准平台不同。JEDEC标准采用金属基体放在绝缘平台上进行。ESDA标准采用在绝缘介质上嵌入金属基体，放在薄的绝缘平台上进行。JEITA也采用绝缘介质中嵌入金属基体的方法，但是介电常数比JEDEC低，这能够有效地减少平板电容。

2）示波器的带宽不同。JEDEC推荐采用1 GHz带宽的示波器，JEITA推荐至少2GHz带宽的示波器，ESDA推荐采用1GHz和3 GHz带宽的示波器。  

3）峰值电流和上升时间不同。在给定电压下，ESDA采用最大的峰值电流。JEDEC的峰值电流比ESDA低15％～25％，JEITA的峰值电流比JEDEC低40％～50％。

这些不同之处，即使在相同的电压下，导致放电电流波形不同，产生的CDM ESD也不同。2009年，ESDA和JEDEC开始合作，结合ESDA和JEDEC标准，产生近似的放电电流波形和峰值电流，形成统一的CDM测试标准（ESDA／JEDEC）。